某型电子设备连接铆钉断裂分析

• 作者: 关迪 刘杰 常选仓 肖滨
• 来源期刊: 电子机械工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 铆钉断裂 有限元模型 疲劳寿命 装配应力 疲劳破坏
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 环境适应性设计
• 页码范围: 17-19,23
• 页数: 4页
• 分类号: V215.9
• 字数: 2094字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19659/j.issn.1008-5300.2018.02.005

摘要

针对某型电子设备在使用中出现的铆钉断裂现象,建立了结构的全尺寸有限元模型,并根据断面特征定量反推了输入载荷.随后通过仿真分析,准确预测了铆钉的断裂位置,还原了铆钉断裂过程并给出了铆钉的疲劳寿命.计算结果显示过大装配应力和来自载机的振动载荷共同导致了铆钉疲劳破坏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘杰	中国电子科技集团公司第二十九研究所	29	103	6.0	9.0
2	关迪	中国电子科技集团公司第二十九研究所	3	3	1.0	1.0
3	肖滨	中国电子科技集团公司第二十九研究所	3	4	1.0	2.0
4	常选仓	中国电子科技集团公司第二十九研究所	3	0	0.0	0.0