非制冷热像仪内部温升对测温精度的影响修正

• 作者: 刘建卓 张艳超 杨帅 王博 高策
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 工学
• 关键词: 红外热像仪 非制冷 辐射测温
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 光学仪器与测试
• 页码范围: 669-676
• 页数: 8页
• 分类号: TN219
• 字数: 3933字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20181104.0669

摘要

随着非制冷型热像仪工作时间的增长,其内部器件、机械结构所积累的热量越来越多,其温升所导致的热辐射势必会对热像仪的测温精度产生严重影响.因此,要实现热像仪的准确测温,必须对其内部的各温升影响因素进行相应的修正.本文通过对影响测温精度的镜筒辐射温度、探测器靶面温度以及热像仪工作累积时间三个因素进行评估和建模,并对其相互关系进行评价,根据数据模型对热像仪辐射测温值进行修正.结果表明,在实验室条件下,经过修正,非制冷型红外热像仪测温精度可控制在±1℃以内,其稳定性可控制在±0.5℃以内.修正后的温度结果基本不受内部温升的影响,有效的提高了非制冷测温型热像仪的稳定性、可重复性以及测温精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘建卓	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	11	38	4.0	6.0
2	王博	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	70	344	10.0	17.0
3	张艳超	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	11	77	5.0	8.0
4	高策	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	15	111	5.0	10.0
5	杨帅	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	19	115	7.0	10.0