恒流二极管器件芯片测试中接触电阻的影响

• 作者: 张敏森
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 恒流二极管 接触电阻 参数 测试 改进
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 分类号: TN31
• 字数: 2321字
• 语种: 中文

摘要

该文主要探讨接触电阻对CRD产品芯片电参数测试的影响.VK参数是CRD产品的一个重要参数,反映CRD产品恒流起始电压特性.基于CRD产品应用中出现的异常,通过芯片恒流特性扫描和模拟验证,剖析芯片测试中接触电阻存在的危害,针对问题点采取相应的测试解决方案.新方案对CRD产品芯片电参数测试的稳定性和准确性具有较高的参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张敏森		2	3	1.0	1.0