利用红外热像技术检测劣化绝缘子的适用性分析研究

• 作者: 付炜平 刘云鹏 张凯元 王伟 董俊虎
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 红外热像技术 劣化绝缘子 适用性 低值绝缘子 零值绝缘子
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 110-114,120
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2018.02.018

摘要

文中针对某500 kV变电站发现的低零值绝缘子缺陷进行了红外热相技术检测劣化绝缘子的适用范围研究,分析了各个电压等级的盘形绝缘子串中电压分布规律,对劣化绝缘子在不同阻值、不同位置下的发热情况进行了计算,给出测试盲区的范围和改善方法.现场测试表明,该方法使红外热像技术在适用范围内检出劣化绝缘子的概率明显提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟		145	2068	25.0	41.0
2	刘云鹏		171	2359	26.0	41.0
3	付炜平		3	37	1.0	3.0
4	董俊虎		1	0	0.0	0.0
5	张凯元		3	0	0.0	0.0