表面开口缺陷高度的测量方法对比

• 作者: 余哲 孙加伟 肖学柱 金晓明
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 端点衍射法 TOFD方法 开口缺陷
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2555字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201804012

摘要

表面开口类缺陷的检测和高度的测量对核电设备寿命的评估意义重大.分别利用常规超声端点衍射法与TOFD(衍射时差法)方法对表面开口缺陷的高度进行了测量并对结果进行了比较,得出结论:检测高度小于4 mm 的开口缺陷时,常规超声端点衍射法分辨力下降严重;TOFD方法利用A扫信号可以区分1 mm 高度的开口缺陷;随着表面开口缺陷高度的增加,两种方法测量结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙加伟		11	4	1.0	1.0
2	余哲		8	4	1.0	1.0
3	肖学柱		8	4	1.0	2.0
4	金晓明		4	2	1.0	1.0