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摘要:
针对硬件木马旁路检测中投影变换等方法可能造成的多点关联信息丢失问题,从旁路信号的点特征分析入手,对旁路信号轨迹多元正态分布特征的检验方法进行了分析和验证,采用多元正态分布的概率密度函数来描述金片旁路信号的分布特征,针对不同数据激励下的旁路信号轨迹,采用成对数据的t检验方法进行硬件木马判别.在FPGA平台上实现的8051微处理器中分别植入5种类型的硬件木马,并对电磁旁路信号进行了检测验证实验.实验结果表明:该方法能够成功检测逻辑规模低至0.05%的硬件木马.
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文献信息
篇名 基于多元正态分析的硬件木马检测研究
来源期刊 华中科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 硬件木马 旁路分析 多元正态分布 概率密度函数 假设检验
年,卷(期) 2018,(1) 所属期刊栏目 计算机与控制工程
研究方向 页码范围 17-21
页数 5页 分类号 TN918
字数 语种 中文
DOI 10.13245/j.hust.180104
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 全厚德 军械工程学院信息工程系 111 426 10.0 14.0
2 李雄伟 军械工程学院信息工程系 54 305 10.0 14.0
3 陈开颜 军械工程学院信息工程系 61 247 8.0 11.0
4 张阳 军械工程学院信息工程系 45 177 8.0 10.0
传播情况
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引文网络
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2020(1)
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研究主题发展历程
节点文献
硬件木马
旁路分析
多元正态分布
概率密度函数
假设检验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
月刊
1671-4512
42-1658/N
大16开
武汉市珞喻路1037号
38-9
1973
chi
出版文献量(篇)
9146
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26
总被引数(次)
88536
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