基于STM32 F4的绝缘耐压测量系统的设计

• 作者: 张淑杰 程武山
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: Cortex-M4 STM32F4xx 耐压测试 绝缘电阻测试 A/D
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 43-45,49
• 页数: 4页
• 分类号: TM934.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.03.012

摘要

绝缘电阻和耐压强度是评价电力设备绝缘状态的重要指标;通过结合Cortex -M4系列的STM32F4xx 设计了绝缘耐压一体化测量系统;通过上位机程序实现不同通道的切换,从而实现不同测量模式的切换,进而实现被测对象绝缘电阻和耐压强度的测量;通过RS232串口将测量得到的结果上传到上位机,分析处理得到的数据,从而能准确的判断设备的绝缘状态;给出了绝缘耐压测量的基本原理、测量公式以及软硬件的实现方法,并通过硬件测试、软件测试以及系统整体调试,验证了系统运行的稳定性和可靠性;对实现测量的自动化具有重要的意义,同时对绝缘耐压的研究具有一定的价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程武山	上海工程技术大学机械工程学院	96	432	12.0	17.0
2	张淑杰	上海工程技术大学机械工程学院	2	3	1.0	1.0