微偏振片阵列红外成像非均匀性产生机理及其校正

• 作者: 冯斌 刘海峥 史泽林
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外偏振成像 微偏振片阵列 非均匀性校正
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 信息科学
• 页码范围: 480-491
• 页数: 12页
• 分类号: TP394.1|TH691.9
• 字数: 6336字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20182602.0480

摘要

集成微偏振片阵列红外成像系统的偏振度图像对非均匀性高度敏感,不经非均匀校正的偏振度图像存在较大误差.为了校正微偏振片阵列红外成像的非均匀性,以入射光Stokes矢量形式,建立了光电转换基本过程的偏振像素模型,基于入射激励和辐射响应数据,分析了微偏振阵列与红外焦面联合作用下非均匀性产生机理.提出一种基于多次辐射测量的矩阵形式的非均匀性校正方法,该方法通过构造多组测量方程,求解偏振像元的增益矢量,由相邻四像元增益矢量组成超级像元的增益矩阵,结合Stokes矢量提取矩阵,逆向求解重构点的校正矩阵.实验数据表明:该方法比两点法降低非均匀性约5% ~20%,有效改善红外偏振度图像质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史泽林	中国科学院沈阳自动化研究所	81	1110	18.0	29.0
5	冯斌	中国科学院沈阳自动化研究所	12	105	6.0	10.0
9	刘海峥	中国科学院沈阳自动化研究所	2	8	2.0	2.0