篇名 | Synergistic effect of total ionizing dose on single event effect induced by pulsed laser microbeam on SiGe heterojunction bipolar transistor | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | SiGe HBT synergistic effect single event effects total ionizing dose | ||
年,卷(期) | 2018,(10) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 690-700 | |
页数 | 11页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/27/10/108501 |