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摘要:
Absorption and carrier transport behavior plays an important role in the light-to-electricity conversion process,which is difficult to characterize.Here we develop a method to visualize such a conversion process in the InGaN/GaN multi-quantum wells embedded in a p-n junction.Under non-resonant absorption conditions,a photocurrent was generated and the photoluminescence intensity decayed by more than 70%when the p-n junction out-circuit was switched from open to short.However,when the excitation photon energy decreased to the resonant absorption edge,the photocurrent dropped drastically and the photoluminescence under open and short circuit conditions showed similar intensity.These results indicate that the escaping of the photo-generated carriers from the quantum wells is closely related to the excitation photon energy.
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文献信息
篇名 Visualizing light-to-electricity conversion process in InGaN/GaN multi-quantum wells with a p-n junction
来源期刊 中国物理B(英文版) 学科
关键词 multiple quantum wells p-n junction light-to-electricity photocurrent
年,卷(期) 2018,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 175-180
页数 6页 分类号
字数 语种 英文
DOI 10.1088/1674-1056/27/9/097104
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节点文献
multiple quantum wells
p-n junction
light-to-electricity
photocurrent
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研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
中国物理B(英文版)
月刊
1674-1056
11-5639/O4
北京市中关村中国科学院物理研究所内
eng
出版文献量(篇)
17050
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27962
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