Match loop测试方法研究

• 作者: 崔海龙 田爱国
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: ATE matchloop 数字芯片测试 时钟同步
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 应用研究\
• 页码范围: 112-113
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 字数: 2178字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.04.56

摘要

在数字芯片测试中,当遇到芯片的数据输出时间点不确定的情况时,测试仪无法编写严格时序的测试向量,而采用match loop向量编程的测试方法可有效的解决以上问题.本文分析了两种基本match loop方法,针对一款基带芯片,采用match loop测试方法进行了详细的分析,最终完成测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔海龙	中国电子科技集团公司第五十四研究所	6	3	1.0	1.0
2	田爱国	中国电子科技集团公司第五十四研究所	4	6	1.0	2.0