银纳米线透明导电薄膜的失效机理研究

• 作者: 叶长辉 毕丽丽 王贵欣 顾瑜佳
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 银纳米线 透明导电薄膜 失效机理 电迁移 硫化 综述
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1257-1264
• 页数: 8页
• 分类号: TQ174
• 字数: 4924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15541/jim20190098

摘要

银纳米线透明导电薄膜材料作为新兴的无铟电极材料,以其优越的光电性能和力学柔韧性,在显示器件、触控面板、太阳能电池、智能加热和电磁屏蔽等领域崭露头角,吸引越来越多的来自科研界及产业界的关注.然而,银纳米线透明导电薄膜在应用中面临着较为严重的稳定性问题,主要表现为容易被痕量含硫气体腐蚀,在300℃以上的温度下纳米线出现断裂和球形化等结构失稳现象,在紫外光照条件下腐蚀及球形化加剧,在加载电场条件下出现离子迁移并产生孔洞及断裂现象.本文详细介绍了以上各种失效现象,分析了失效的微观机制,介绍了解决各种失效现象的具体措施.银纳米线透明导电薄膜失效行为的研究,有助于进一步推动该材料的实际应用进程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王贵欣	浙江工业大学材料科学与工程学院	3	6	1.0	2.0
2	叶长辉	浙江工业大学材料科学与工程学院	3	6	1.0	2.0
3	顾瑜佳	浙江工业大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0
4	毕丽丽	浙江工业大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0