星用介质材料表面充放电效应试验研究

• 作者: 刘小旭 左易 张振龙 蔡明辉 郑汉生 韩建伟
• 来源期刊: 宇航总体技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 介质 表面充电 放电脉冲 电子通量
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 试验与仿真
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: V520.6|V416.5
• 字数: 2796字
• 语种: 中文

摘要

航天器表面介质材料易遭受表面充放电危害.利用30keV单能电子对几种不同的航天介质材料进行了表面充放电模拟试验,测量了不同电子通量辐照下的表面充电电位以及放电脉冲.试验结果表明,聚酰亚胺薄膜在接地处理不当时表面可充至千伏以上,易发生表面放电,且辐照强度越大,放电频率越高.表面镀铝的聚酰亚胺薄膜在不接地时,铝膜成为悬浮导体更加剧了放电的危害.而通过渗碳处理的聚酰亚胺薄膜,其良好的导电性能可有效抵御nA/cm2量级电子的表面充电.聚四氟乙烯天线罩表面未进行防静电处理时,表面充电电位可达万伏量级,极易发生放电.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡明辉	中国科学院国家空间科学中心	29	108	7.0	9.0
2	韩建伟	中国科学院国家空间科学中心	90	549	14.0	18.0
3	张振龙	中国科学院国家空间科学中心	35	275	10.0	15.0
4	刘小旭		12	35	4.0	5.0
5	郑汉生		6	8	2.0	2.0
9	左易		2	0	0.0	0.0