高精度微波夹具设计中的TRL校准技术?

• 作者: 任翔 张一治 李硕 李静
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: TRL校准 微波测试 网络分析仪 S参数
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 专栏·微电子计量测试
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TN368
• 字数: 2136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2019.01.005

摘要

TRL校准是一种非常精确的校准方式,尤其适用于非标准接口的微波器件S参数的精确测试.论文探讨了有关TRL校准技术,从TRL校准技术理论模型分析,到设计TRL校准件的要求,到设计TRL校准件时需考虑的因素,对TRL校准技术做了较全面的介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张一治		5	1	1.0	1.0
2	任翔		4	0	0.0	0.0
3	李静		4	0	0.0	0.0
4	李硕		2	0	0.0	0.0