一种高可靠的开关电容PUF电路

• 作者: 万美琳 张灵超 贺章擎 邹雪城
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 开关电容 物理不可克隆函数(PUF) 可靠性增强 密钥产生 可靠性测试 可靠性标识
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 93-97,103
• 页数: 6页
• 分类号: TN602
• 语种: 中文
• DOI: 10.13245/j.hust.190316

摘要

提出了一种高可靠的开关电容PUF(RSC-PUF)电路,通过在开关电容PUF(SC PUF)内部嵌入一个测试电容及相应的控制电路,在其运行过程中自动测试每个PUF单元的电容偏差,根据偏差大小为每bit输出生成相应的可靠性标识值,外部电路可以由此挑选可靠的PUF单元输出构建数字密钥.在HJ 0.18μm CMOS(互补金属氧化物半导体)工艺下进行流片验证,结果显示:当被挑选的可靠PUF的比率为20.5％时,RSC-PUF的比特错误率达到1×10-8以下,满足密钥产生所需的可靠性要求;而32 bit RSC-PUF所消耗的面积与SC PUF相比增加了约74.8％,远小于纠错机制所需要的开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹雪城	华中科技大学光学与电子信息学院	310	2261	21.0	31.0
2	贺章擎	湖北工业大学太阳能高效利用及储能运行控制湖北省重点实验室	20	102	5.0	9.0
3	万美琳	湖北大学物理与电子科学学院	11	8	2.0	2.0
4	张灵超	湖北工业大学太阳能高效利用及储能运行控制湖北省重点实验室	1	1	1.0	1.0