双剪连接件及双耳连接耳片疲劳寿命估算的逐次累计求和算法

• 作者: 宋颖刚 张亦波 李钰 熊峻江 陈迪
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 疲劳 裂纹 寿命 连接件 扫描电子显微镜(SEM)
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 页码范围: 1175-1184
• 页数: 10页
• 分类号: V222
• 字数: 5748字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2018.0603

摘要

为了研究复杂连接件疲劳失效机理和估算其裂纹形成和扩展寿命,在双剪连接件和双耳连接耳片疲劳试验的基础上,首先,通过扫描电子显微镜(SEM)分析,研究了其破坏模式和机理,并利用断口定量反推技术判读了疲劳裂纹形成与扩展寿命.然后,根据应力严重系数法,建立了复杂连接件疲劳性能S-N-L(疲劳应力-寿命-应力严重系数)曲面;利用该曲面,发展了复杂连接件疲劳裂纹形成寿命估算算法;基于断裂力学理论,推导出裂纹扩展长度与扩展角度公式,建立了疲劳裂纹扩展寿命估算的累计求和算法.最后,运用寿命估算方法,估算了双剪连接件的疲劳裂纹形成寿命、双剪连接件和双耳连接耳片的裂纹扩展寿命,预测结果与断口判读结果吻合良好.本文寿命估算方法为复杂连接件疲劳定寿提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊峻江	北京航空航天大学交通科学与工程学院	56	306	11.0	15.0
2	李钰	北京航空航天大学交通科学与工程学院	3	0	0.0	0.0
3	宋颖刚		5	6	2.0	2.0
4	陈迪	北京航空航天大学交通科学与工程学院	3	11	1.0	3.0
5	张亦波		1	0	0.0	0.0