基于51单片机和AD5933的便携式电阻抗测试系统设计

• 作者: 彭晓军 李继承 林晓明 苏宇航
• 来源期刊: 机电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 压电阻抗法 阻抗分析仪 PZT传感器 51单片机 结构健康监测
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 检验检测
• 页码范围: 87-89
• 页数: 3页
• 分类号: TN712+.5|TP206+.1
• 字数: 1830字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19508/j.cnki.1672-4801.2019.04.027

摘要

针对商用阻抗分析仪存在的价格昂贵、设备笨重等缺点,借助51单片机、AD5933芯片及辅助电路构建了一套便携式电阻抗测试系统.该测试系统可以在0.1～100 kHz频率范围内以0.2～2 V的激励电压对PZT传感器进行电阻抗测量.使用该系统对一维梁结构上宽度为0.5 mm的裂纹损伤扩展过程进行了检测;研究结果表明,所构建的测试系统对于一维梁结构的初始损伤具有很高的灵敏度,对于随后的扩展损伤也能进行有效的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林晓明		35	28	2.0	4.0
2	苏宇航		10	8	2.0	2.0
3	李继承		12	2	1.0	1.0
4	彭晓军		6	1	1.0	1.0