X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟

• 作者: 张盼盼 杨有泽 杨珍 梁亚丽 贺攀红 阿丽莉
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 硫 氟 地质样品
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 资源与环境
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34|TH744.15
• 字数: 2418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2019.02.011

摘要

采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫(S)和氟(F)元素的快速测定方法.通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证.结果 显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差(RSD)均小于2％.方法 具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺攀红		14	63	5.0	7.0
5	梁亚丽		3	5	2.0	2.0
9	杨珍		13	62	4.0	7.0
13	张盼盼		11	27	3.0	5.0
14	阿丽莉		5	6	2.0	2.0