可用于单幅闭合干涉图相位恢复的正则化相位跟随技术

• 作者: 严天亮 刘东 吴兰 周宇豪 张与鹏 王贤敏 臧仲明
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 工学
• 关键词: 干涉 相位恢复 单幅条纹 正则化
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 719-730
• 页数: 12页
• 分类号: TH744.3
• 字数: 7542字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20191204.0719

摘要

在利用干涉技术检测温度、压力、形貌等物理量时,往往需要通过各种调制手段将这些物理量的信息加载到干涉条纹图样中,并通过对其进行分析而得到被测信息.当实验条件不利于实验者实施移相、加载波等调制手段时,探测器得到的往往是单幅闭合条纹,此时常用的移相解调技术和频谱分析方法等不再适用.正则化相位跟随(Regularized Phase Tracking,RPT)技术可以对单幅闭合条纹进行相位恢复,是目前针对单幅闭合条纹相位恢复最有效的方法.近年来研究者们从复杂干涉图处理能力、算法稳定性、相位恢复精度等方面对RPT技术进行了改进和发展,使其逐渐走向实用化.本文介绍了RPT技术用于单幅干涉图相位恢复的基本原理,总结了近年来RPT技术的相关改进与发展,例举了采用RPT技术进行相位恢复的应用场合,并适当推测RPT技术的未来发展方向.