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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于自蔓延反应的气密性陶瓷封装技术研究
基于自蔓延反应的气密性陶瓷封装技术研究
作者:
吉勇
明雪飞
朱家昌
李杨
高娜燕
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
自蔓延反应
Al/Ni复合叠层薄膜
局部加热
气密性陶瓷封装
摘要:
研究了一种利用Al/Ni合金薄膜自蔓延反应来实现气密性陶瓷封装的技术方案,并对该方法的气密性焊接质量进行了测试和分析.研究结果表明,通过蒸镀工艺,可以有效地制备规定厚度和规定层数的Al、Ni交替叠层薄膜.该Al/Ni合金薄膜在压力条件下可以触发自蔓延反应,形成局部高温焊接.参照GJB 548B密封性A1方法对样品进行密性测试,结果显示:平均测试结果为4.0×10-3(Pa·cm3)/s;利用X-ray测试焊接区,结果显示:孔隙率为14.47%.由此可以判断,该气密性封装方法的密封性和孔隙率均符合标准.
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关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
基于自蔓延反应的气密性陶瓷封装技术研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
自蔓延反应
Al/Ni复合叠层薄膜
局部加热
气密性陶瓷封装
年,卷(期)
2019,(3)
所属期刊栏目
可靠性设计与工艺控制
研究方向
页码范围
38-41
页数
4页
分类号
TQ174.6
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2019.03.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李杨
中国电子科技集团公司第五十八研究所
27
143
5.0
11.0
2
高娜燕
中国电子科技集团公司第五十八研究所
9
23
3.0
4.0
3
明雪飞
中国电子科技集团公司第五十八研究所
8
35
3.0
5.0
4
吉勇
中国电子科技集团公司第五十八研究所
6
19
2.0
4.0
5
朱家昌
中国电子科技集团公司第五十八研究所
5
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
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版权信息
全文
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引文网络
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二级参考文献
(5)
共引文献
(33)
参考文献
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节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1994(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1997(2)
参考文献(0)
二级参考文献(2)
1998(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1999(2)
参考文献(0)
二级参考文献(2)
2000(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
2002(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2019(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
自蔓延反应
Al/Ni复合叠层薄膜
局部加热
气密性陶瓷封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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