原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
研究了一种利用Al/Ni合金薄膜自蔓延反应来实现气密性陶瓷封装的技术方案,并对该方法的气密性焊接质量进行了测试和分析.研究结果表明,通过蒸镀工艺,可以有效地制备规定厚度和规定层数的Al、Ni交替叠层薄膜.该Al/Ni合金薄膜在压力条件下可以触发自蔓延反应,形成局部高温焊接.参照GJB 548B密封性A1方法对样品进行密性测试,结果显示:平均测试结果为4.0×10-3(Pa·cm3)/s;利用X-ray测试焊接区,结果显示:孔隙率为14.47%.由此可以判断,该气密性封装方法的密封性和孔隙率均符合标准.
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文献信息
篇名 基于自蔓延反应的气密性陶瓷封装技术研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 自蔓延反应 Al/Ni复合叠层薄膜 局部加热 气密性陶瓷封装
年,卷(期) 2019,(3) 所属期刊栏目 可靠性设计与工艺控制
研究方向 页码范围 38-41
页数 4页 分类号 TQ174.6
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2019.03.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李杨 中国电子科技集团公司第五十八研究所 27 143 5.0 11.0
2 高娜燕 中国电子科技集团公司第五十八研究所 9 23 3.0 4.0
3 明雪飞 中国电子科技集团公司第五十八研究所 8 35 3.0 5.0
4 吉勇 中国电子科技集团公司第五十八研究所 6 19 2.0 4.0
5 朱家昌 中国电子科技集团公司第五十八研究所 5 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
自蔓延反应
Al/Ni复合叠层薄膜
局部加热
气密性陶瓷封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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