CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨

• 作者: 余达 刘金国 孔德柱 张晓阳 彭畅 李广泽 陈佳豫
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 地球科学
• 关键词: 全局快门 对地观测 超光谱成像 寄生光灵敏度 CMOS成像 EMCCD
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 80-84
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.5|P231
• 字数: 3251字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2019.07.016

摘要

全局快门在对地观测的超光谱成像、测绘及星敏应用中具有优势,但应用效果也依赖于高信噪比.针对CMOS成像特点,设计了可进行拉灌电流的低压基准源电路,基于低热光学变形的焦面电子学,提出上电初始态不定的多通道串行数据接收方法;针对全局快门所特有的寄生光灵敏度影响,采用分行统计中间行为基准的多点拟合校正方法;按照EMVA1288标准,将前照式CMOS成像系统与制冷背照式EMCCD进行了测试,校正前后单幅图像的标准差分别为3.37和0.42,最大信噪比为123.37,EMCCD的最大信噪比为359.43.结果表明,该校正方法可有效减弱全局快门的固定图形噪声,面阵CMOS在全局快门方式下的信噪比与EMCCD相比还有较大差距.