循环电载荷下大功率LED金引线疲劳断裂寿命预测

• 作者: 张国旗 李磊 樊嘉杰 樊学军 胡爱华 钱诚
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 大功率发光二极管(LED) 金引线 疲劳断裂 寿命预测 可靠性
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 页码范围: 478-485
• 页数: 8页
• 分类号: TN312.8
• 字数: 5104字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2018.0401

摘要

随着大功率发光二极管(LED)在照明领域的普及与广泛应用,可靠性逐渐成为研究的重点.大功率LED封装器件中金引线疲劳断裂失效一直是制约其可靠性的重要因素.通过针对大功率LED封装器件中的金引线力学仿真与功率循环试验相结合的方法,首先确定循环电载荷条件下该型LED的主要失效原因为金引线疲劳断裂,其次提出基于电流加速模型的加速因子提取方法和基于应变幅值的Coffin-Manson解析寿命预测方法,最终完成对LED金引线疲劳断裂寿命的预测和试验验证.研究结果表明:所提方法具有较高的寿命预测精度,可以满足大功率LED封装器件可靠性快速、准确评估的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊嘉杰	河海大学机电工程学院	5	11	1.0	3.0
5	李磊		1	1	1.0	1.0
6	钱诚	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	1	1	1.0	1.0
7	胡爱华		1	1	1.0	1.0