IGBT模块功率循环疲劳寿命预测

• 作者: 姚二现 常海萍 庄伟东
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 功率循环 铝键合线 有限元法 疲劳寿命
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 12-17
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

随着IGBT功率模块的广泛应用,其功率循环可靠性问题得到关注和重视.介绍了模块的功率循环失效机理,指出铝键合线剥离是模块功率循环失效的原因;基于有限元法计算了模块在功率循环过程中的温度分布与变化,并在此基础上计算了模块的应力应变:根据应力应变数值的计算结果,分别采用应变能法和应变法等两种疲劳破坏准则,预测了键合线疲劳寿命.研究表明,铝键合线根部为模块的疲劳危险区:随着芯片热损耗的增加,芯片结温变化幅度的增加,功率模块疲劳寿命急剧地减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常海萍	南京航空航天大学能源与动力学院	89	439	11.0	13.0
2	姚二现	南京航空航天大学能源与动力学院	1	15	1.0	1.0
3	庄伟东		1	15	1.0	1.0