X射线荧光光谱微区分析在元素赋存状态研究中的应用

• 作者: 刘玉纯 刘瑱 林庆文 梁述廷
• 来源期刊: 安徽化工
• 学科: 地球科学
• 关键词: 元素赋存状态 X射线荧光光谱 微区分析
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 115-117,120
• 页数: 4页
• 分类号: P575
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-553X.2019.04.036

摘要

结合光学显微镜等其他方法,利用X射线荧光光谱仪微区分析功能,对锰矿石中的Mn元素,辉钼矿中的Mo、S、Re等元素,含黄铁矿包裹体的闪锌矿中的S、Fe、Zn等元素进行微区原位定性或定量分析,研究确定元素在地质体中不同的赋存部位或赋存状态.本法只要将矿石矿物标本制成光片,即可进行微区原位分析,为元素赋存状态研究工作提供一种新的技术手段,同时能够补充和验证其他研究方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁述廷		12	108	5.0	10.0
2	刘玉纯		17	126	5.0	10.0
3	刘瑱		15	55	5.0	6.0
4	林庆文		13	39	4.0	5.0