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摘要:
针对超大规模集成电路(VLSL)的发展过程中测试数据量增加的问题,提出了一种基于三态信号的测试数据压缩方法.首先,对测试集进行优化预处理操作,即对测试集进行部分输入精简和测试向量重排序操作,在提高测试集中无关位X的比例的同时,使各测试向量之间的相容性提高;随后,对预处理后的测试集进行三态信号编码压缩,即利用三态信号的特性将测试集划分为多个扫描切片,并对扫描切片进行相容编码压缩,考虑多种相容规则使得测试集的压缩率得到提高.实验结果表明,与同类压缩方法相比,所提的方法取得了较高的压缩率,平均测试压缩率达到76.17%,同时测试功耗和面积开销也没有明显增加.
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文献信息
篇名 基于三态信号的测试数据相容压缩方法
来源期刊 计算机应用 学科 工学
关键词 测试数据压缩 三态信号 相容压缩 扫描切片 自动测试设备
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 应用前沿、交叉与综合
研究方向 页码范围 1863-1868
页数 6页 分类号 TP391.7
字数 5873字 语种 中文
DOI 10.11772/j.issn.1001-9081.2018112334
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研究主题发展历程
节点文献
测试数据压缩
三态信号
相容压缩
扫描切片
自动测试设备
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计算机应用
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