铜胁迫下玉米叶片光谱谐波振幅特征与胁迫程度判别

• 作者: 张超 杨可明 郭辉
• 来源期刊: 农业机械学报
• 学科: 农学
• 关键词: 玉米 叶片 光谱 铜胁迫 高光谱遥感 谐波子信号振幅
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 农业信息化工程
• 页码范围: 153-158
• 页数: 6页
• 分类号: S127
• 字数: 4006字
• 语种: 中文
• DOI: 10.6041/j.issn.1000-1298.2019.10.017

摘要

为探测重金属铜污染胁迫对玉米叶片光谱的影响,判别玉米植株受铜污染胁迫的程度,在地面设置了11个梯度铜胁迫玉米盆栽实验,获取了玉米在出苗期、拔节期和出穗期的老叶光谱、叶绿素含量以及出穗期叶片铜含量,阐述了利用前3次谐波子信号振幅C1、C2与C3探测玉米叶片光谱弱畸变的机理,并选取出苗期、拔节期和出穗期玉米老叶光谱480～ 670 nm与670 ～750 nm两波段进行谐波分析,解析了前3次谐波子信号振幅C1、C2、C3与铜胁迫梯度间的规律.研究得出:出苗期,在Cu(100)到Cu(1200)梯度范围内,随铜胁迫程度增加,玉米老叶光谱在480～670 nm与670～750 nm两波段的谐波振幅C1逐渐增大,利用谐波振幅C1可以判别与区分玉米植株受铜胁迫程度;拔节期,在480～ 670 nm与670～ 750 nm两波段、所有设置胁迫梯度内,谐波振幅C1、C2、C3特征变化规律不明显;出穗期,从Cu(50)到Cu(1200)梯度范围内,除Cu(1000)外,在480 ～670 nm波段的谐波子信号振幅C1随胁迫梯度增加而增大;玉米出苗期与出穗期是利用谐波子信号振幅特征进行铜胁迫程度判别与分析的最佳生长阶段.