单轴应变对CuO光吸收谱影响的密度泛函理论研究

• 作者: 邢永明 陈余
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 物理学
• 关键词: 氧化铜 密度泛函理论 吸收谱 吸收峰
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 工艺·技术
• 页码范围: 1188-1191
• 页数: 4页
• 分类号: O472.3
• 字数: 1173字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9731.2019.01.030

摘要

基于密度泛函理论计算了单轴应变对CuO吸收谱的影响.在可见光范围内, 施加负应变时, 吸收峰呈现出蓝移现象;施加正应变时, 吸收峰呈现出红移现象;εz增加到6％以后, 吸收谱不存在吸收峰.在红外光范围内:施加负应变时, εx造成吸收峰呈现红移现象, εz造成吸收峰呈现蓝移现象;施加正应变时, εy造成吸收峰呈现红移现象, εz造成吸收峰呈现蓝移现象;εx增加到4％以后, 吸收谱不存在吸收峰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邢永明	内蒙古工业大学理学院	82	584	14.0	20.0
2	陈余	内蒙古工业大学理学院	12	18	4.0	4.0