基于光谱估计与多光谱技术的光学元件表面疵病检测

• 作者: 徐静浩 李杰 杨言若 步扬 王向朝 王少卿
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量 疵病检测 光谱估计 多光谱技术 疵病数量 疵病面积
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 153-161
• 页数: 9页
• 分类号: O439
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201946.0904002

摘要

为实现精密光学元件表面疵病的高效测量和精确统计,提出了一种基于光谱估计和多光谱技术的光学元件表面疵病检测方法.该方法利用光谱估计提取白光图像中不同波长的单光谱疵病图像,并合成多光谱疵病图像,然后采用优化后的OTSU(Otsu Image Segmentation Algorithm)分别对单光谱与多光谱疵病图像进行分析.基于该方法搭建了光学元件表面疵病检测装置,获得了白光照明条件下光学元件表面疵病的图像.实验结果表明,与原始白光图像相比,合成多光谱图像的疵病检出数量提升了1.85倍,疵病检出面积最大增加了6.0倍,检测效率得到明显提高.根据光学元件表面疵病的特性选取不同波长组合来生成单光谱与多光谱图像,可更加高效精确地检测出传统检测技术不易检出的疵病信息.