T/R组件测试系统的波控技术研究与实现

• 作者: 俞利国 张强 蒋鹏
• 来源期刊: 现代信息科技
• 学科: 工学
• 关键词: PCIe 波控技术 T/R组件测试系统 覆盖率
• 年，卷（期）: 2019,（16）
• 所属期刊栏目: 电子工程
• 页码范围: 46-47,50
• 页数: 3页
• 分类号: TN958.92
• 字数: 2195字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4706.2019.16.017

摘要

为了实现T/R组件测试系统波束控制的通用性,提出了一种基于PCIe总线的可编程模块化的波控技术.该技术应用到测试系统里可对不同类型的T/R组件进行灵活控制,模拟相控阵波束扫描方式进行性能测试,可有效地提高T/R组件的测试效率和覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张强		20	149	6.0	11.0
2	俞利国		2	1	1.0	1.0
3	蒋鹏		1	1	1.0	1.0