航空电子产品通用测试设备架构研究

• 作者: 张旭洲 李林
• 来源期刊: 电脑知识与技术:学术版
• 学科: 工学
• 关键词: 航空电子产品 通用 测试设备
• 年，卷（期）: 2019,（3X）
• 页码范围: 269-270
• 页数: 2页
• 分类号: TP302

摘要

随着航空电子产业的飞速发展,各种航空电子产品层出不穷,航空电子企业所需的各种专用测试设备也越来越多,但是专用测试设备不可避免其开发周期长、研制成本高、可替换性差、利用率低等问题,该文旨在探索一种针对某一类产品的通用化测试设备的设计架构,从而实现缩短开发周期、节约研制成本、增强可替换性、提升设备利用率的目标。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李林	中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所	14	26	3.0	5.0
2	张旭洲	中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所	7	6	2.0	2.0