射线底片黑度对缺陷检出能力的影响分析

• 作者: 周高鹏 贺钰林
• 来源期刊: 科技创新导报
• 学科: 工学
• 关键词: 射线底片 黑度 缺陷检出 影响
• 年，卷（期）: 2019,（23）
• 所属期刊栏目: 工业技术
• 页码范围: 97,99
• 页数: 2页
• 分类号: TG115
• 字数: 698字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16660/j.cnki.1674-098X.2019.23.097

摘要

底片黑度是射线检验灵敏度的影响因素之一,而射线检验灵敏度是评价射线底片质量最重要的指标.本文对各国不同射线标准中的黑度要求进行了对比,并设置了薄壁管道焊缝双壁双影透照验证试验,通过改变曝光量,获得不同黑度的底片,验证并分析底片黑度对真实缺陷检出能力的影响.通过本文的讨论,提出了为有效检验工件质量,而射线检验底片黑度应达到理论范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺钰林		6	5	1.0	2.0
2	周高鹏		1	0	0.0	0.0