15～600 keV脉冲硬X射线能谱测量

• 作者: 任书庆 徐启福 来定国 杨实 苏兆锋 邱孟通
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: "闪光二号"加速器 脉冲硬X射线 PIN探测器阵列 吸收法 能谱
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 128-132
• 页数: 5页
• 分类号: TL81
• 字数: 4221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB202032.190354

摘要

介绍了基于吸收法的脉冲硬X射线能谱测量的基本原理及设计思路,完成了探测器及吸收片的选型,设计了射线准直系统,研究了散射对测量的影响,以12路PIN探测器阵列及铜、铝吸收片为测量核心部件研制了脉冲硬X射线能谱测量系统.实验测量了真空环境下"闪光二号"加速器串级二极管产生的脉冲硬X射线强度,获得了不同衰减程度的实验波形,通过解谱获得了脉冲硬X射线的能谱,光子最高能量约600 keV,平均能量约89.1 keV,与理论计算的结果比较符合.