中能治疗水平X射线机发射率常数测定及MC模拟

• 作者: 刘哲 吴金杰 曾国强 李云飞 王继 赵瑞
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 发射率常数 CCRI辐射质 空气比释动能 能谱模拟
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: TB98
• 字数: 1532字
• 语种: 中文

摘要

为研究标准CCRI辐射质下发射率常数的量值以及变化规律,建立了中能治疗水平X射线辐射场,通过自由空气电离室测量空气比释动能率并计算X射线机发射率常数量值.用MC模拟方法模拟出X射线能谱并求得粒子的平均能量.结果 表明:治疗水平X射线机发射率常数随电子能量增大而增大,趋势趋于平缓并给出了标准CCRI辐射质下量值;用EGSnrc软件模拟标准CCRI辐射质下X射线能谱,附加过滤阻挡吸收低能粒子会使得能谱向右偏移,粒子数减少但平均能量变大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	曾国强		99	475	11.0	15.0
3	王继		10	7	2.0	2.0
4	李云飞		3	5	1.0	2.0
8	赵瑞		9	8	2.0	2.0
9	刘哲		7	5	2.0	2.0