磁场作用下冷热探针测硅片的载流子浓度

• 作者: 刘岩枫 赵雨
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 温差电动势 导电类型 掺杂浓度 磁场
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 52-53,62
• 页数: 3页
• 字数: 2040字
• 语种: 中文

摘要

制作并改进了传统的冷热探针测半导体导电类型的实验装置,即使传统冷热探针原来固定的温度差改进为数值可变的量,做出了p、n型硅半导体样品的温差电动势随冷热探针温度差的变化关系.发现温差小于120℃时温差电动势与温差成正比,进而提出了一种测半导体掺杂浓度的实验测量方法.把装置处于磁场作用下,发现基于硅片的冷热探针产生的温差电动势有所增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵雨	上海电力大学数理系	10	42	3.0	6.0
2	刘岩枫	上海电力大学数理系	1	0	0.0	0.0