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摘要:
温度、压强作为影响光谱测量精度的主要因素,是研发高精度光谱测量仪器的研究重点.针对该问题开发了一套用于光谱测量仪器的高精度温度压强控制系统.该系统从仪器结构、电路设计和控制算法等方面进行了设计和优化,最终系统长时间温度控制精度可达0.003℃,压强控制精度达到5.34 Pa.在控压未控温条件下,该系统对体积分数为300×10-6的甲烷气体浓度测量结果波动为12.06×10-6,标准差σ为3.26×10-6;而在温压控制下,浓度测量结果波动为4.03×10-6,标准差σ为0.57×10-6.结果 表明该高精度温度压强控制系统可以提高光谱测量仪器的测量精度和稳定度,同时也验证了该系统的可靠性和可行性.所提出的用于光谱测量仪器的温度压强控制系统达到了实验和生产标准,为研发同类高精度光谱测量仪器提供了借鉴和参考.
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文献信息
篇名 用于光谱测量仪器的高精度温压控制系统设计
来源期刊 量子电子学报 学科 物理学
关键词 光谱学 光谱测量仪器 温度 压强 控制系统
年,卷(期) 2020,(3) 所属期刊栏目 光谱
研究方向 页码范围 266-272
页数 7页 分类号 O433.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2020.03.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高晓明 64 380 11.0 16.0
2 刘锟 中国科学院安徽光学精密机械研究所基础科学中心 18 135 4.0 11.0
3 周心禺 中国科学院安徽光学精密机械研究所基础科学中心 1 0 0.0 0.0
7 董洋 中国科学院安徽光学精密机械研究所基础科学中心 1 0 0.0 0.0
11 王坤阳 中国科学院安徽光学精密机械研究所基础科学中心 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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控制系统
研究起点
研究来源
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研究去脉
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相关学者/机构
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量子电子学报
双月刊
1007-5461
34-1163/TN
大16开
安徽省合肥市1125邮政信箱
26-89
1984
chi
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17822
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