电子设备故障趋向和对策有效性的相关研究

• 作者: 三浦 翔也 李琳琳
• 来源期刊: 国外机车车辆工艺
• 关键词: 晶体管 故障 老化 电子设备 电流泄漏 斜率
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 试验·研究
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: TN324
• 语种: 中文

摘要

传统上对电子设备故障倾向的监测是以设备整体为基础的,本文以零部件为单位对电子设备进行故障状态监测的角度出发,开展了可行性和有效性的相关研究.以晶体管为例,通过研发小型半导体试验装置,开展简易电路试验,明确了晶体管的老化机理,验证了通过使用电压监测电路开展老化状态监测的可能性,可为今后新型装置的研发和保养方法的改进提供参考作用.