基于LIB-SVM的电子设备故障预测方法研究

• 作者: 张经伟 赵玉刚 鞠建波
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 故障预测 支持向量机 LIB-SVM
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1888-1891
• 页数: 4页
• 分类号: TP206.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2015.06.014

摘要

为及时了解电子设备的运行状态,实现电子设备未来某时刻故障预测,将“事后维修”转变为“事前预防”,在统计学习理论(SLT)的基础上,采用LIB-SVM支持向量回归方法,对小样本、非线性条件下的数据进行拟合,并根据自动测试设备(ATE)测得的实际数据及专家经验,对该方法进行了验证;经实验证明,该方法是可行的、有效的,对电子设备的故障预测具有较高的准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鞠建波		59	462	9.0	19.0
2	张经伟		4	19	3.0	4.0
3	赵玉刚		3	13	2.0	3.0