电子束选区熔化制备纯钼块体的组织与性能

• 作者: 刘彬 弋阳 朱纪磊 李会霞 谭彦妮 赵培 陈睿
• 来源期刊: 粉末冶金材料科学与工程
• 关键词: 钼 电子束选区熔化 二次熔化 显微组织 致密度 显微硬度
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 工艺技术
• 页码范围: 497-504
• 页数: 8页
• 分类号: TG146.4
• 语种: 中文

摘要

采用电子束选区熔化技术制备纯钼块体,采用化学分析法、金相显微镜、分析天平及显微硬度计对纯钼块体的杂质元素含量、显微组织、密度和显微硬度进行测试.结果表明:采用电子束选区熔化成形技术制备的纯钼块体中C、O、N和H等杂质元素增量小于0.001％.一次熔化成形的纯钼块体显微组织中,沿沉积方向呈粗大柱状晶,并且沿晶界存在少量微裂纹.而通过二次熔化工艺,可以细化晶粒,抑制微裂纹生长.较优的电子束二次选区熔化成形工艺为:一次熔化电流12 mA、熔化速度0.6 m/s;二次熔化电流12 mA,熔化速度0.89 m/s.该工艺下成形的纯钼块体致密度达99％以上(密度(10.15±0.13)g/cm3),硬度(HV0.2)在185～200之间,无明显各向异性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘彬		62	436	12.0	18.0
2	谭彦妮		11	51	3.0	7.0
3	陈睿		6	21	3.0	4.0
4	李会霞		2	0	0.0	0.0
5	朱纪磊		2	0	0.0	0.0
6	赵培		2	0	0.0	0.0
7	弋阳		2	0	0.0	0.0