采用矩阵递归的最小测试用例集生成算法

• 作者: 王东 黄孝伦
• 来源期刊: 电子技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: MC/DC 测试用例 耦合条件 递归 算法
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 计算机技术与应用
• 页码范围: 71-74
• 页数: 4页
• 分类号: TN06|TP301.6
• 字数: 4203字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.191029

摘要

符合MC/DC准则的最小测试用例集算法具有重要的实用价值.首先将布尔表达式转换为语法二叉树,然后采用矩阵组合逻辑运算方法逐层递归,从而获得完备的MC/DC最小测试用例集.经验证,矩阵组合逻辑运算方法是合理的、正确的.该方法对于非平凡布尔表达式可快速获取完备的MC/DC最小测试用例集,同时也可以处理带耦合条件的复杂布尔表达式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王东		14	9	2.0	2.0
2	黄孝伦		8	35	4.0	5.0