光传感器中劣化绝缘子非接触式检测技术研究

• 作者: 刘继承 吴启进 李明 汤正汉 罗洋
• 来源期刊: 自动化与仪器仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 光传感器 劣化绝缘子 非接触式检测 检测技术 信息存储
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 自动化应用
• 页码范围: 177-180
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.1001-9227.2020.01.177

摘要

传统的检测技术在检测光传感器中的劣化绝缘子时,检测范围小,成本高,且工作人员必须要直接接触传感器.为了解决上述问题,提出了一种新的光传感器中劣化绝缘子检测技术.利用驱动控制电机、LD光源、调节电路、光学传感头和电源设定检测通道,通过光纤自动判断绝缘子串的空间分布特性,将分析数据与数据库中的标准数据进行对比,得到检测结果.为验证所提检测技术的工作效果,与传统技术进行实验对比,结果表明,运用所提技术对劣化绝缘子进行检测时,检测成本远低于传统方法,说明该技术能够实现非接触式检测,检测范围广,成本低,对于保障电网安全运行有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘继承		10	6	2.0	2.0
2	吴启进		5	8	2.0	2.0
3	李明		12	5	1.0	2.0
4	汤正汉		5	0	0.0	0.0
5	罗洋		2	0	0.0	0.0