高均匀性UV覆盖基线设计方法研究

• 作者: 王锴 解娜 李宇海
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 光学系统 干涉成像 干涉基线 空间频率采样
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 光电系统
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: TP271.5
• 语种: 中文

摘要

基于干涉成像原理的分块式平面侦察成像系统的提出,为降低高分辨率光学系统的体积、质量和功耗提供了新的解决方案.为提高重构图像质量,干涉系统的基线需要通过设计提高空间频率覆盖的均匀性,以避免空间采样缺频.针对孔径排列配对的问题,提出一种高均匀性UV覆盖的基线阵列设计方法.该方法在径向排列的基础上,通过计算低频截止频率,分别优化高频、低频基线.该设计方法可以实现高均匀性、低冗余度的UV覆盖结果,可有效提高重构图像质量.