基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

• 作者: 张玉燕 曹鹏鹏 温银堂 田洪刚 罗小元
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 胶层缺陷图像重建 隔热复合材料 FCM算法 平面阵列传感器 电容层析成像
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 页码范围: 231-237
• 页数: 7页
• 分类号: TB971|TP212.1
• 字数: 4282字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.02.18

摘要

为提高平面阵列电容成像系统的成像精度,提出了一种基于FCM数据优化的成像算法.根据平面阵列电极电容数据的特点,为减小电容测量误差对介电常数的影响,利用FCM算法对测量电容值的不断收敛以实现数据优化的作用,在减弱噪声的同时提高电容值数据的稳定性.在此基础上,对一种隔热材料胶层进行缺陷检测实验,使重建图像的相关系数得到了提高,减小了图像重建误差.实验结果表明:图像重建结果的优化算法可获得更加稳定、有效的电容数据,胶层缺陷图像重建精度具有较大提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗小元	燕山大学电气工程学院	42	244	10.0	13.0
2	张玉燕	燕山大学电气工程学院	35	156	7.0	12.0
3	温银堂	燕山大学电气工程学院	30	70	6.0	7.0
4	田洪刚	燕山大学电气工程学院	2	1	1.0	1.0
5	曹鹏鹏	燕山大学电气工程学院	1	0	0.0	0.0