扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测算法

• 作者: 孙淼 李琪 王智 董明利 高思田 黄鹭
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 粒径测量 纳米颗粒 扫描电子显微镜 长短轴比
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 页码范围: 1199-1204
• 页数: 6页
• 分类号: TB92
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.10.04

摘要

基于数学几何学,提出一种扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测方法,该方法利用电镜颗粒图像的粒径分布及形状信息,采用长短轴比值和区域面积2种不同参数对颗粒是否团簇或残缺进行判断,实现筛选单个的完整颗粒,并使用MATLAB对不同粒径参数的颗粒宽边缘形状进行提取,运用最小二乘法求出颗粒粒径的像素值,经转化后得到真实值,从而实现了微纳米颗粒粒径的自动检测.试验选取聚苯乙烯纳米颗粒对方法进行验证,结果表明:对于团簇残缺较少的图像,采用长短轴比值和面积2种参数进行筛选均能准确有效提取单点颗粒,但团簇残缺颗粒较多时,采用长短轴比值效果更加准确,且计算颗粒粒径与实际值吻合良好.