陶瓷介质滤波器故障分析与解决

• 作者: 张艳征
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 裂纹 成型 研磨 染色试验
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TN713+.3
• 语种: 中文

摘要

该文根据失效案例分析了滤波器陶瓷介质本体开裂的原因,并验证了染色试验检验裂纹的有效性.结果显示:介质滤波器开裂失效是由于介质本体的成型异常或研磨异常产生的微小裂纹在后续使用过程中受到各种应力作用后扩展成宏观裂纹所致.可通过染色试验后用20倍显微镜检验的方法剔除不合格品.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张艳征		1	0	0.0	0.0