锥束CT在电子元器件方面的应用

• 作者: 吕益良 吴彦举 郑诗杨 郝兵
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 锥束CT 电子元器件 失效分析 逆向分析 制版图
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 37-38
• 页数: 2页
• 分类号: TP391
• 字数: 2193字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2020.05.23

摘要

锥束CT相比较DR和断层扫描,具有检测精度高,检测效率高的优势.不但可以对工业零部件进行无损检测,发现零件内部缺陷信息,还可以对电子元器件进行失效分析.使用高分辨率微焦点锥束CT扫描技术可以针对电路板、以及芯片等重要电子元器件进行二维、三维成像分析,可以直观了解电子器件内部结构及线路分布情况,对于重要电路板还原可以进行逆向分析,分析出电路板线路图,还原制版图,帮助企业吸收已有的科技成果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝兵		4	0	0.0	0.0
2	吕益良		7	0	0.0	0.0
3	吴彦举		4	0	0.0	0.0
4	郑诗杨		4	0	0.0	0.0