通用图形处理器GPGPU在自动测试生成中的应用

• 作者: 黄宇翔
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路制造 通用图形处理器 自动测试 生成 加速
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 34-35
• 页数: 2页
• 分类号: TN407|TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.05.011

摘要

探索加速自动测试生产的效率,对降低集成电路测试成本、缩短设计周期有着重要意义.基于通用图形处理器GPGPU的特性,以及自动测试的运行过程,探索GPGPU对自动测试生成的加速效果.