电子装备液冷连接器失效分析

• 作者: 余克壮 曹洪志 王庆兵 马政伟
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 密封耐压试验 X射线检测 疲劳裂纹
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 42-45
• 页数: 4页
• 分类号: TM503+.5
• 语种: 中文

摘要

分析了电子装备液冷连接器漏液故障的影响因素,并结合漏液故障结构树定位出漏液故障是由液冷连接器壳体自身失效引起的.通过对故障液冷连接器进行密封耐压试验以及X射线检测,确定了液冷连接器失效是由于壳体根部出现了穿透性裂缝;进一步对裂缝处进行断面金相观察,发现该裂缝断面存在明显疲劳辉纹,是由疲劳应力引起的.分析表明:该电子装备工作过程一直处于高频振动环境,而与液冷连接器相连接的液冷管路通过多处绑扎进行固定,从而导致液冷连接器与液冷管路连接变为刚性连接,在高频振动环境下,液冷连接器疲劳应力超过材料疲劳强度而失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王庆兵		3	0	0.0	0.0
2	马政伟		1	0	0.0	0.0
3	余克壮		1	0	0.0	0.0
4	曹洪志		1	0	0.0	0.0