MC模拟高纯锗探测器准直器对X射线能谱测量的影响

• 作者: 文玉琴 赵瑞 吴金杰 赖万昌 王二彦
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 X射线能谱 高纯锗探测器 准直器 TEA MCNP5
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 页码范围: 245-249
• 页数: 5页
• 分类号: TB98
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2021.02.18

摘要

为了研究不同限束光阑准直器对测量结果的影响,使用MCNP5蒙卡模拟软件建立带准直器的高纯锗探测器模型.通过模拟分析准直器各项参数对高纯锗探测器测量X射线能谱的影响,确立了准直器的最佳尺寸,为实验室使用高纯锗探测器测量X射线能谱提供一定的参考依据.计算了透射等效孔径(TEA)准直器指标,分析了高纯锗探测器测量X射线得到的探测效率.结果表明:对于能量小于80 keV的低能量段X射线能谱测量,选择孔径小、屏蔽厚的准直器;对于80 keV以上中高能量段的X射线应选择较大孔径的准直器,以避免由于从铅准直器中产生小角散射线和铅的特征线而影响X射线能谱的质量.