基于正向压降测试仪的继电器触点状态测试方法研究

• 作者: 刘良勇 王纬国
• 来源期刊: 河南科技
• 关键词: 正向压降 最小二乘法 继电器触点测试
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 工业技术|INDUSTRY TECHNOLOGY
• 页码范围: 45-47
• 页数: 3页
• 分类号: TM58|TM934.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5168.2021.02.019

摘要

本文阐述了基于正向压降测试仪的继电器测试系统,通过开发上位机软件测试程序控制正向压降测试仪对继电器触点进行VI测试,利用最小二乘法对测试数据进行分析,计算测试数据的平均电阻值和线性度,并在此基础上开发循环测试程序,得出多次测试数据的拟合曲线和线性度曲线,通过分析结果判定继电器触点的健康状态.