外推法天线增益测量的核心算法及实验研究

• 作者: 陈军 宋振飞 万发雨
• 来源期刊: 计量学报
• 关键词: 计量学 天线增益 外推法 增益测量 天线互耦 滤波抑制
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 页码范围: 793-798
• 页数: 6页
• 分类号: TB973
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2021.06.16

摘要

基于外推法测量原理研究了外推法天线增益测量核心算法,重点在于天线互耦的滤波抑制、功率级数展开式的拟合和任意距离下的天线增益求解.此外,还基于以上核心算法设计了一款外推法天线增益测量界面,为外推法天线增益的精密测量提供便利.最后,开展了 W波段标准天线的增益校准实验,增益测量结果与NPL的测量偏差小于0.04 dB,实现了较好的等效一致性.